保定周边仪器/仪表

保定周边仪器/仪表信息

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  • 氧探头检测压传感器

    氧探头检测压传感器

    传感器是一种能够感受到规定的被检测并按照一定规律转换成可输出信号的装置,以满足信的传输、处、存储、显示、记录和控制等要求。 一、传感器的组成 传感器一般由敏感元件,转换元件及基本转换电路三部分组成。 ①敏感元件是直接感受被测物量,并以确定关系输出另一物量的元
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    2024-04-11
  • 氧分析仪探头工工业炉

    氧分析仪探头工工业炉

    人们为了从外界获取信,必须借助与感觉器官。而靠人们自身的感觉器官,在研究自然现象和规律以及生产活动中它们的成功就远远不够了。为了适应这种情况,就需要传感器。因此可以说,传感器是人类五官的,所以又称之为电五官。 新技术革命的到来世界逐渐的进入了信时。在利用
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    2024-04-03
  • 包头市供应GT涡轮震动器厂家供应

    包头市供应GT涡轮震动器厂家供应

    其内有偏心涡轮在轨道上高速回转而产生大功率的离心力。壳体由-挤压成形烤漆铝件与硬处理的底板构成。偏心涡轮由二个高功率,预润滑的匹配有护圈轴承支持。采用轴承的内座圈与外座圈的设计,只需利用-销子扳手就很容易更换轴承、利用左旋与右旋螺纹固定的底板系自动锁定。另
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    2022-02-28
  • 当前城市信息不足,为您推荐其它城市【仪器/仪表】信息
  • IC电气特性测试数字源表

    IC电气特性测试数字源表

    普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体,支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出,全系列产品丰富,新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表,相比于传统S系列源表,准确度提升至±0.03%
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    2024-12-17
  • 电流脉冲电源1μs窄脉宽

    电流脉冲电源1μs窄脉宽

    PL系列窄脉冲LV测试系统是为大功率激光器LV测试而研制的,大功率激光器使用直流或者宽脉冲加电时发热严重,而激光器特性受温度影响非常大,直流或宽脉冲下的测试结果并不能反映器件特性。 PL系列产品具有输出电流脉冲窄、输出脉冲电流大、支持脉冲光峰值功率检测、支持激
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    2024-12-16
  • 数字源表用于光伏测试系统

    数字源表用于光伏测试系统

    武汉普赛斯推出的精密型数字源表(SMU)是对太阳能电池和各种其他器件的I-V特性进行表征的蕞佳解决方案。其宽广的电流和电压测量范围,可以为科研及生产制造提供着越的测量性能。结合太阳光模拟器以及砖用的上位机软件,支持自动扫描I-V特性曲线以及开路电压、短路电流、蕞
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    2024-12-16
  • wat半导体参数测试设备_晶圆片检测仪

    wat半导体参数测试设备_晶圆片检测仪

    SPA-6100wat半导体参数测试设备_晶圆片检测仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材
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    2024-12-16
  • 晶体管特性图示仪iv+cv曲线扫描仪

    晶体管特性图示仪iv+cv曲线扫描仪

    晶体管特性图示仪iv+cv曲线扫描仪优势: IV、CV一键测;一体机,支持远程指令控制;支持三同轴接探针台 能够覆盖从材料、晶圆、器件到模块的测试;详询一八一四零六六三四七六; 产品特点: 30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力; 测量精度高,全量程下可
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    2024-12-16
  • 半导体分立器件电性能iv测试系统

    半导体分立器件电性能iv测试系统

    半导体分立器件特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应;通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析,过程既复杂又耗时,还占
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    2024-12-16
  • IC芯片电特性测试数字源表

    IC芯片电特性测试数字源表

    IC芯片电特性测试数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表,普赛斯S系列、P系列源表标准的SCPI指令集,Y秀的性价比,良好的售后服务与技术支持,详询一八一四零六六三四七六;普赛斯仪表是手家国产数字源表生产厂家,产品已经历3年迭代完善,对标2400、2450、2611、2601B、2651
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    2024-12-16
  • igbt静态性能测试设备

    igbt静态性能测试设备

    普赛斯igbt静态性能测试设备,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。详询18140663476 测试项目 集
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    2024-12-16
  • 晶圆/芯片微弱电流测试VI源表

    晶圆/芯片微弱电流测试VI源表

    武汉普赛斯仪表晶圆/芯片微弱电流测试VI源表标准的SCPI指令集,Y秀的性价比,良好的售后服务与技术支持,集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体,支持四象限工作S系列源表 应用 分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、
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    2024-12-16
  • GaN SiC三代半功率器件测试设备

    GaN SiC三代半功率器件测试设备

    PMST系列功率器件静态参数测试系统是武汉普赛斯正向设计、精益打造的高精密电压/电流测试分析系统,是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统,具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势,旨在全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽
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    2024-12-16
  • 柔性传感器电性能测试VI源表

    柔性传感器电性能测试VI源表

    普赛斯仪表携手业内知名厂商共同打造的柔性电子材料测试系统,通过组合不同动作的测试夹具,可以模拟扭、转、弯、折、卷等5种基本测试动作, 11个基础模拟测试动作,实现一机多用,让柔性测试标准化。不仅可以测试柔性材料的折、弯、扭、拉、卷等五种基本动作,而且可以进行柔性材
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    2024-12-16
  • 脉冲IV特性测试数字源表

    脉冲IV特性测试数字源表

    PXOOB系列脉冲源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表,汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。PXOOB系列源表适用于各行各业使用者
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    2024-12-16
  • 直流特性IV曲线SMU数字源表

    直流特性IV曲线SMU数字源表

    普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体,支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出,全系列产品丰富,新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表,相比于传统S系列源表,准确度提升至±0.03%
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    2024-12-16
  • 大功率分立器件测试设备静态参数分析仪

    大功率分立器件测试设备静态参数分析仪

    普赛斯分立器件静态测试系统集多种测量和分析功能一体,可精准测量功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半导体等)的静态参数,电压可高达10KV,电流可高达6KA。该系统可测量不同封装类型的功率器件的静态参数,具有高电压和大电流特性,uΩ级电阻,pA级电流精准
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    2024-12-16
  • 国产SMU数字源表高精密IV曲线扫描仪

    国产SMU数字源表高精密IV曲线扫描仪

    国产SMU数字源表高精密IV曲线扫描仪认准生产厂家武汉普赛斯仪表,普赛斯S系列源表标准的SCPI指令集,U秀的性价比,良好的售后服务与技术支持,详询一八一四零六六三四七六 数字源表基本功能 集多种功能为一体的精密测量仪器,主要是测量电气性能 SMU可以当电源,
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    2024-12-16
  • 功率半导体测试电源高压程控电源

    功率半导体测试电源高压程控电源

    功率半导体测试电源高压程控电源具有输出及测量电压高(3500V)、能输出及测量微弱电流信号(1nA)的特点。设备工作在第一象限,输出及测量电压0~3500V,输出及测量电流0~100mA。支持恒压恒流工作模式,同时支持丰富的I-V扫描模式。详询18140663476最大输出功率:350W,3500
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    2024-12-16
  • IGBT|SiC功率半导体器件测试设备

    IGBT|SiC功率半导体器件测试设备

    PMST系列IGBT|SiC功率半导体器件测试设备是武汉普赛斯正向设计、精益打造的高精密电压/电流测试分析系统,是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统,具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势,旨在全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGB
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    2024-12-16
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