半导体分立器件测试系统的基本原理是什么?

半导体分立器件测试系统的基本原理是什么?

半导体分立器件测试系统是一种磁电效应。当电流垂直于外部磁场通过导体时，导体垂直于磁场方向的两个面与电流之间会产生电位差。这种电位差称为霍尔电位差。导体将载流子运动在外加磁场中，由于洛伦兹力的作用而使轨迹发生偏差，并使两侧的电荷在物质上积累，形成垂直于电流方向的电场，使载流子受洛伦兹力和电斥力平衡，从而在两侧建立稳定的霍尔电压电位差。正交电场与电流强度与磁场强度的乘积之比即为半导体分立器件测试系统。平行电场与电流强度之比就是电阻率。

因此，对于已知半导体分立器件测试系统的导体，通过已知的电流方向和大小，测量导体两侧霍尔电位差的方向和大小，就可以得到该导体磁场的方向和大小。半导体是一种在室温下电导率介于导体和绝缘体之间的材料。半导体广泛应用于无线电、电视和温度测量。例如，二极管是一种由半导体制成的器件。半导体生产过程包括晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试。

所谓封装测试其实就是封装后测试，对所制造的半导体元器件的结构和电气功能进行确认，以确保半导体元器件满足系统要求的过程称为封装后测试。半导体是一种导电性从绝缘体到导体都可以控制的材料。无论从技术还是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是巨大的。

分立器件测试系统由:电磁铁、高精度电源、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表、高斯表、标准样品、样品安装架、系统软件组成。为该仪器系统专门研制的DX-320效应仪集成了恒流源、6位半微伏表和霍尔测量的复杂开关继电器——开关，大大减少了实验的连接和操作。Dx-320可作为单个恒流源和微伏计使用。它用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、半导体分立器件测试系统等重要参数，而要了解半导体材料的电学特性，事先对这些参数进行控制。因此，半导体分立器件测试系统测试系统是了解和研究半导体器件和半导体材料电学特性的重要工具。实验结果由软件自动计算。该方法可同时得到散体载流子浓度、板状载流子浓度、迁移率、电阻率和半导体分立器件测试系统)、磁电阻等。