半导体参数测试仪CV+IV曲线扫描仪
武汉普赛斯仪表有限公司
2025-01-13 15:00:03
SPA-6100半导体参数测试仪CV+IV曲线扫描仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有桌越的测量效率与可靠性。详询一八一四零六六三四七六；
产品特点：
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；
测量精度高,全量程下可达0.03%精度；
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；
自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；
提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；
免费提供上位机软件及SCPI指令集；
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