半导体静态参数测试仪+功率器件测试设备
武汉普赛斯仪表有限公司
2024-07-16 09:53:05
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU)的第三代半导体功率器件静态参数测试方案,为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段,实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。详询一八一四零六六三四七六;
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![半导体静态参数测试仪+功率器件测试设备](http://picv8.kuyiso.com/info/2023/6565/6ee1f0797d6eacc0.jpg)
系统特点
高电压:支持高达3.5KV高电压测试(Z大扩展至10kV);
大电流:支持高达6KA大电流测试(多模块并联);
高精度:支持uΩ级导通电阻、nA级漏电流测试;
丰富模板:内置丰富的测试模板,方便用户快速配置测试参数;
配置导出:支持一键导出参数配置及一键启动测试功能;
数据预览及导出:支持图形界面以及表格展示测试结果,亦可一键导出;
模块化设计:内部采用模块化结构设计,可自由配置,方便维护;
可拓展:支持拓展温控功能,方便监控系统运行温度;
可定制开发:可根据用户测试场景定制化开发;
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