半导体器件测试仪IV曲线仪

半导体器件测试仪IV曲线仪认准普赛斯仪表，详询；普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案​

S型数字源表应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高达300V，电流低至30pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。

产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作



内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV



源及测量的准确度为0.03%



四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA



丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描



支持USB存储，一键导出测试报告



支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网